Iegūt savu profilu
Citēts
Visi | Kopš 2019. gada | |
---|---|---|
Atsauces | 2485 | 1139 |
h rādītājs | 27 | 18 |
i10 rādītājs | 78 | 36 |
Publiskā piekļuvē
Skatīt visu78 raksti
5 raksti
pieejami
nav pieejami
Pamatojoties uz finansējuma mandātiem
Līdzautori
- Jorge Martinez-BausetUniversitat Politècnica de València, SpainVerificēta e-pasta adrese: upv.es
- Vicente Casares-GinerProfessor, Universitat Politècnica de València, SpainVerificēta e-pasta adrese: upv.es
- Luis GuijarroFull Professor. Universitat Politècnica de ValènciaVerificēta e-pasta adrese: dcom.upv.es
- José Ramón VidalUniversitat Politècnica de ValènciaVerificēta e-pasta adrese: dcom.upv.es
- Luis Tello-OquendoiWN Lab. | NCSUVerificēta e-pasta adrese: ncsu.edu
- Israel Leyva-MayorgaAalborg UniversityVerificēta e-pasta adrese: es.aau.dk
- Frank Y. LiUniversity of AgderVerificēta e-pasta adrese: uia.no
- Jose Manuel Gimenez-GuzmanUniversitat Politècnica de València, SpainVerificēta e-pasta adrese: upv.es
- Lei JiaoProfessor of Information and Communication Technology, University of AgderVerificēta e-pasta adrese: uia.no
- Diego Pacheco-ParamoVerificēta e-pasta adrese: dfpp.co
- Maurizio NaldiFull Professor of Computer Science, LUMSA UniversityVerificēta e-pasta adrese: lumsa.it
- David Garcia-RogerUniversitat de ValènciaVerificēta e-pasta adrese: uv.es
- Amir DarehshoorzadehVerificēta e-pasta adrese: uottawa.ca
- Llorenç Cerdà-AlabernUniversitat Politècnica de CatalunyaVerificēta e-pasta adrese: ac.upc.edu
- Mario E. Rivero-AngelesIPNVerificēta e-pasta adrese: ipn.mx
- Shih-Chun LinNorth Carolina State UniversityVerificēta e-pasta adrese: ncsu.edu
- Debasish GhoseAssociate Professor, School of Economics, Innovation, and Technology, Kristiania University CollegeVerificēta e-pasta adrese: kristiania.no
- Wafa BenaatouPostdoctoral Researcher, University of North Florida (UNF)Verificēta e-pasta adrese: unf.edu
- Miguel A Rodriguez-HernandezUniversitat Politècnica de ValènciaVerificēta e-pasta adrese: upvnet.upv.es
- Bruno TuffinInriaVerificēta e-pasta adrese: inria.fr